Số sản phẩm của nhà sản xuất:
SN74BCT8373ADWRG4
Product Overview
Nhà sản xuất:
Texas Instruments
DiGi Electronics Số hiệu phần:
SN74BCT8373ADWRG4-DG
Mô tả:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Mô tả chi tiết:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
Hàng tồn kho:
1653864
Yêu cầu báo giá
Số lượng
Tối thiểu 1
Tối thiểu 1
(*) là bắt buộc
Chúng tôi sẽ phản hồi bạn trong vòng 24 giờ
Chúng tôi sẽ phản hồi bạn trong vòng 24 giờ
GỬI
SN74BCT8373ADWRG4 Thông số kỹ thuật
Danh mục
Logic, Logic Chuyên Dụng
Nhà sản xuất
Texas Instruments
Đóng gói
-
Loạt
74BCT
Tình trạng sản phẩm
Obsolete
Loại logic
Scan Test Device with D-Type Latches
Cung cấp Voltage
4.5V ~ 5.5V
Số bit
8
Nhiệt độ hoạt động
0°C ~ 70°C
Loại gắn kết
Surface Mount
Gói / Trường hợp
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Gói thiết bị nhà cung cấp
24-SOIC
Số sản phẩm cơ sở
74BCT8373
Tài liệu và Hồ sơ
Bảng dữ liệu
Thông tin bổ sung
Gói tiêu chuẩn
2,000
Phân loại Môi trường & Xuất khẩu
Trạng thái RoHS
ROHS3 Compliant
Mức độ nhạy cảm với độ ẩm (MSL)
1 (Unlimited)
Trạng thái REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Các Mô Hình Thay Thế
SỐ PHẦN
SN74BCT8373ADW
NHÀ SẢN XUẤT
Texas Instruments
SỐ LƯỢNG CÓ SẴN
0
DiGi SỐ PHẦN
SN74BCT8373ADW-DG
ĐƠN GIÁ
9.11
Loại thay thế
Direct
Chứng nhận DIGI
Sản phẩm liên quan
SN74ABT18646PM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY54016ARMG-TR
IC RCVR/LINE DVR CML LV 8-MLF
SN74FB2040RCG3
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
